愉悦与苦痛中文字幕电影未删减完整版下载,日本色影院,未删版色戒电影完整版下载,速度与激情5电影在线观看完整版,大开色戒完整版迅雷,椎名由奈在线观看,中文文字幕一区二区三三

本發(fā)明適用于MOS器件技術領域，提供了一種MOS器件非均勻界面退化電荷的數(shù)值模擬方法及系統(tǒng)，對軟件底層進行改動，增加了計算非均勻界面電荷數(shù)Nit(x, t)的功能模型，從而能夠?qū)崿F(xiàn)非均勻界面電荷對器件性能的影響的數(shù)值模擬。所述的數(shù)值模擬方法還添加界面電荷退化模型接口，從而能夠?qū)Ω鞣N效應引起非均勻界面電荷進行數(shù)值模擬；所述的數(shù)值模擬方法還添加了一個器件參數(shù)提取接口，可以提取器件參數(shù)包括閾值電壓、輸出特性、跨導、電子和空穴濃度分布、電勢分布、電場分布等。針對NBTI的退化模型，可以揭示在HCI應力下純偏置NBTI效應獨特的變化規(guī)律，深入理解器件退化和壽命的關系，指導工藝設計，進一步推動集成電路可靠性研究的發(fā)展。

元器件>其它元器件>mos器件; 計算控制>模擬仿真方法>數(shù)值電荷模擬方法